金存KS20(YS5283主控)开箱评测拆解
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介绍这篇文章主要测试YS5283主控芯片的性能。YS5283是得一微电子推出的一款单芯片固态移动硬盘解决方案。 YS5283支持USB3.2 Gen2接口并支持USB Attached SCSI协议(UASP)。USB3.2 Gen2接口提供高达10Gbps的理论数据传输速度,是USB3.2 Gen1数据传输速度的两倍。
YS5283通过全面整合的软硬件,实现了PC与外部SSD之间的超高速数据传输,以满足下一代应用的需求。由于它可以直接连接到主机,而不需要外部桥接芯片,这使得外置SSD制造商能够缩小系统尺寸,降低其材料清单(BOM)成本。 YS5283的峰值连续读写传输速度高达560MB/s和450MB/s,支持1x/1y/1z nm SLC/MLC/TLC & 3D NAND Flash,支持Toggle 2.0和ONFI 3.x,LDPC、RAID和DSP技术增强了耐用性和保持性。
深圳市得一微电子有限责任公司成立于2017年,由硅格半导体(SiliconGo,成立于2007)与立而鼎科技(成立于2015)两家公司合并而成,公司总部设在深圳。 规格
外观和CHIPFANCIER NANO比较一下,体积非常小。
有两个指示灯
测试平台CPU:i5-10400
主板:MSI Z490-I UNIFY
接口:Intel 原生 USB3.2 Gen2 Type-C
基准测试CrystalDiskInfo 测速完了才截的图,有一些写入量。 ChipGenius无法识别主控。
SG Flash ID
经查询,为三星TLC颗粒
AS SSD Benchmark(NTFS分区)
SLC缓存区内性能不错,与SM2258XT不相上下,但4K64线程略差。
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WTGbench 得到了Platinum评价,整体表现良好,场景测试得分比SM2258XT略高
urwtest
TxBENCH TxBench中的安全擦除(SE、ESE)都可以使用。
Trimcheck 支持TRIM的
IOMETER 4K QD32随机写入
使用IOMETER在8GB 文件区域内进行4K QD32随机写入。 高压力4K写入测试表现不错。
TxBench全盘连续写入 出SLC缓存区后速度比较差。
掉速测试
连续4k写入后的掉速测试
测试方法:先对U盘进行慢速格式化,然后测速。之后使用Iometer 4K 随机写入2000秒。通电闲置15分钟,再进行测速。如果U盘的4K随机速度有降低,则认为对U盘的4K随机速度有不可恢复的降低。不适合作为WTG系统盘长期使用。具体实验方法参考:掉速实验(萝卜头论坛) (略,支持TRIM不掉速)
填充50%、90%测速
将移动磁盘分别填充到50%和90%进行测速。可以看到SLC Cache大小随使用空间动态变化
(待补充)
拆解 比较好拆,从指示灯的两个小孔撬开,取下胶粘的金属片,拧下螺丝就可取出主板。
可以看到YS5283的体积非常小。 闪存上没有文字丝印,似乎是黑片
其他功耗测试
连续写入时最大电流只有300mA左右。 从性能、功耗、体积看,这个单芯片的方案非常适合做成固态U盘。 如果配上MLC闪存,或者关闭SLCCache,使用TLC直写,全盘写入性能会更好。 |