CHIPFANCIER 优盘掉电测试
当SSD出现意外掉电后，一般会出现以下几种问题：1、 掉盘，SSD变砖
2、 用户数据损坏
3、 FTL损坏
4、 低位Page出错
MLC或者eMLC的NAND因为在每个物理Page里存放了2个逻辑Page的数据(每个存储单元里可以保存2bit数据。)当进行编程时候，低位Page（逻辑Page低的那个）是先编程的，之后才对高位Page（逻辑地址高的那个）再进行编程。当编程高位Page时，编程所需要的电压同时冲击同一单元下之前已经被编程过有效数据的低位Page上。如果这时候出现掉电，高位Page自然会出错，但是之前已经编程过正确数据的低位Page也会因为这次掉电而造成出错。（高、低位Page保存的数据可能是2个不同的文件，所以用户不知不觉中在对其中1个文件操作时，因为掉电把之前的另一个文件搞挂了，如果是关键数据，轻则系统文件挂，重则SSD整个因为元数据挂并无法修复造成不识别）当低位Page在之后的操作中需要被主机访问时，SSD会报告这个数据是不可恢复的错误。
本次测试的CHIPFANCIER 64GB采用了SSD芯片，而USB连接意外掉电的情况非常多，在意外掉电时保护数据更加重要。
测试方案：
1.用WIN10 镜像填充磁盘，留下10G左右空间用于IOMETER写入数据。
2.IOMETER测试 256K连续写入、256K连续读取、4K随机读写混合，测试时拔下优盘。
3.重新插上优盘，校验优盘内镜像文件的MD5。
本次测试的CHIPFANCIER 64GB优盘，采用SM2246XT主控，无外置缓存。
IOMETER测试
测试过程中拔下优盘，IOMETER并没有自动停止测试，ErrorCount增加。
校验MD5值
256K连续读取测试，再次校验MD5
4K随机读写混合（50%读，50%写），这种情况对主控的压力是比较大的，优盘内原有文件经过多次掉电依然没有损坏。
使用DISKGENIUS进行检测，FTL没有出现损坏。
结论：在正常使用过程中，我们无需担心由于拔插优盘造成数据损坏的问题。
赞，以后还是3，0下面使用吧，2，0下面，开关机很慢，等不及就拔下来了 给我的感觉SSD移动硬盘接在USB2.0和3.0接口的电脑上，WTG系统的运行速度差别感觉不大。倒是经常在不同电脑上使用WTG系统，每次开机WTG系统都要重新认识硬件变动，重新选配驱动程序，这个倒是挺费时间的。但比起WTG的便携性，这些都可以接受。 管理有条件的话 也测试下EN方案的U盘{:38:} JyDisk 发表于 2017-6-3 23:11
管理有条件的话 也测试下EN方案的U盘
EN也是一样的。没有问题。 怕的不是这个，是主板问题等造成的U盘击穿烧毁等等。 挖个坟，u盘这他体积应该放不下真正意义上的掉电保护电容吧 yjhjrh 发表于 2019-2-3 21:08
挖个坟，u盘这他体积应该放不下真正意义上的掉电保护电容吧
但是U盘中的钽电容还是能起到一定掉电保护作用的，更何况SM2246XT无外置缓存，384KB内置缓存，在掉电保护方面要比有外置缓存的方案好很多，缓存越大，掉电保护就越难实现。
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