东芝EX1 随机4K测试散点图
这个测试可以反映大负荷使用情况下的磁盘性能。测试盘：东芝EX1 64GB ，原生USB3.0接口，NTFS分区
测试步骤：使用IOmeter 1.1 QD=32，Pseudo数据模型，8GB LBA，4K对其写入，测试1000秒，每一秒取点，绘制IOPS——时间图像
前100秒散点图
可以看出4K写入性能前10秒较好，IOPS可上百，随后立即下降，一直处于0~40的范围。这可能是某些人会觉得程序开多了，WTG系统变卡的原因。
与之对比，机械硬盘性能则比较稳定，4K 写入IOPS一直保持在100上下。
EX1原始测试数据：
机械硬盘原始测试数据：
创见JF750 4K QD32随机写入散点图
60秒前IOPS保持在200，之后开始下降， 并有大量0点出现
相比来说还是PS2251-01主控性能更强
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